Mě na studii zaujalo toto na co někteří upozorňují i jinde. Když to u nějaké karty zamrzlo, tak to zamrzlo už hned v prvním testu dne. Pak následovaly další zámrzy (různý počet) a následoval výsledek FAIL. A pokud ten FAIL nebyl zároveň poslední test dne, tak následoval PASS. Proč vždy byl mezi HANG a PASS jeden FAIL, proč to bylo vždy od prvního testu, proč nenásledoval někdy po HANG PASS, proč to není různě náhodné?
Takto mně to připomíná, jako by se karta postupně zahřívala na nějakou provozní teplotu, těsně před tím už systém nevytuhl ale jen chyboval a pak už běžel ok. Toto u mě uvádí výsledky do velmi pochybného světla.