Odpověď na názor

Jde o stejnou studii a neporovnává MLC a TLC, ale SLC, eMMC a TLC. Tady jsou z ní shrnutí:
https://www.zdnet.com/article/ssd-reliability-in-the-real-world-googles-experience/


A teď si k tomu připočtěte fakta:
1) Jde o data z 2016 a sledování probíhalo 6 let.
2) V roce 2010 (začátek pozorování) byly SSD v plenkách. Intel v Q3 2009 uvedl disky X25-M na 34nm procesu s MLC a max. kapacitou 160GB. Na konci 2008 byly SSD dokonce ještě na 50nm.
3) Spousta prvních SSD trpěla chybami v řadičích a ani neuměla TRIM.
4) Zmenšování procesu se zastavilo u 16nm, kdy další zmenšování už mělo za následek takovou míru nespolehlivosti, že výrobci raději jdou cestou více vrstev.
5) U Intel 520 s 25nm MLC je udáván UBER "1 sector per 10^16", zatímco u novějších disků jako 6000p nebo 7600p s TLC již jen "<1 sector per 10^15 bits read". Oboje jsou consumer řešení.

Co z toho plyne? Google testoval primárně historické disky, které samy o sobě pravděpodobně měly své mouchy v řadičích a neměly tak dobrý wear-leveling. A ano, vyšlo jim, že mezi (starými) SLC a (novějšími) MLC nebyl ve spolehlivosti rozdíl. To vše ale při flash s dramaticky většími buňkami než dnes. Navíc lze čekat, že Google nepoužíval consumer SSD, ale enterprise s mnohem větší mírou over-provisioningu (ta je u těchto disků z důvodu garance výkonu při zaplnění, což se u consumer negarantuje).

Jde tyto výsledky extrapolovat na dnešní stav? V mezidobí se řadiče o dost zlepšily, zatímco ale životnost flash se významně zhoršila. A TLC buňka uchovává 8 hodnot, zatímco MLC jen čtyři. To se na spolehlivosti musí nutně projevit.

Nějaké statistiky k počtu P/E cyklů:
SLC - 50000 až 100000 pro planar
MLC - 3000 až 10000 pro planar, 30000 až 35000 pro 3D
TLC - 300 až 1000 pro planar, 1500 až 3000 pro 3D
QLC - 150 až 1000 pro 3D